

發(fā)布時(shí)間:2023-02-13
前言:
動(dòng)態(tài)特性是功率器件的重要特性,在器件研發(fā)、系統(tǒng)應(yīng)用和學(xué)術(shù)研究等各個(gè)環(huán)節(jié)都扮演著非常重要的角色。故對(duì)功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試是相關(guān)工作的必備一環(huán),主要采用雙脈沖測(cè)試進(jìn)行。
支持的器件封裝類型
長(zhǎng)期以來,針對(duì)分立器件的測(cè)試系統(tǒng)選擇很少,其中一個(gè)原因是分立器件的封裝種類很多導(dǎo)致開發(fā)成本和硬件成本高,特別對(duì)于貼片封裝器件更是如此。市面上大多數(shù)測(cè)試系統(tǒng)僅支持TO-247、TO-220這樣的插件器件,無法對(duì)其他封裝形式的器件進(jìn)行測(cè)試,極大地限制了測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用場(chǎng)景。
針對(duì)這一問題,泰克科技推出的功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)DPT1000A采用轉(zhuǎn)接板的方式滿足了絕大多數(shù)封裝形式分立器件的測(cè)試需求。轉(zhuǎn)接板上采用socket對(duì)器件進(jìn)行電氣連接,轉(zhuǎn)接板再插入到測(cè)試電路上的socket上,能夠方便快速地實(shí)現(xiàn)被測(cè)器件及不同封裝的更換。

滿足的測(cè)試電壓、電流范圍
合適的測(cè)量?jī)x器是測(cè)試系統(tǒng)能夠獲得精準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果的基礎(chǔ),主要包括示波器、電壓探頭、電流探頭。我們可以看到一些測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)量?jī)x器選擇上存在很大的問題,例如:
使用基礎(chǔ)示波器測(cè)量高速M(fèi)OSFET、高速IGBT、SiC MOSFET,由于帶寬和采樣率嚴(yán)重不足導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果與實(shí)際值偏差較大
使用ADC位數(shù)為8bit的示波器測(cè)量高電壓、大電流器件,由于分辨率低導(dǎo)致測(cè)量值精度差
使用高差分探頭測(cè)量驅(qū)動(dòng)波形,導(dǎo)致波形噪聲大、震蕩嚴(yán)重
使用羅氏線圈測(cè)量SiC MOSFET的端電流,由于帶寬嚴(yán)重不足導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果與實(shí)際值偏差較大
泰克針對(duì)被測(cè)信號(hào)的特征在功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)DPT1000A選擇使用了合適的測(cè)量?jī)x器以提升測(cè)試結(jié)果的精度。示波器選用MSO5B系列,帶寬最高可達(dá)2GHz、記錄長(zhǎng)度高達(dá)500M并具備12位ADC,可滿足高速開關(guān)對(duì)帶寬的要求且具備較高的采樣率、更低的噪聲和更高的垂直分辨率。柵極波形測(cè)量選用無源探頭,帶寬可達(dá)1GHz、衰減倍數(shù)小并具備MMCX接口,可精準(zhǔn)測(cè)量下管的驅(qū)動(dòng)電壓,并降低了接地線的影響。
端電壓測(cè)量選用高壓差分探頭,在滿足寬電壓測(cè)量范圍的同時(shí)具有更大的輸入阻抗,提供了安全的測(cè)試保障。端電流測(cè)試選用shunt電阻,其帶寬達(dá)到1GHz以上,能夠滿足高速器件對(duì)帶寬的要求。